日立X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪
发布时间：2013/8/30 10:36:41 修改时间：2020/4/25 19:25:32 浏览次数：1085
日立X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪

日立X-Strata920使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术，X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面处理，测量单层和多镀层(包括合金层)，应用专家对 X-Strata920 进行了进一步升级，确保获得可靠、可重复结果，满足数百种应用，包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面处理、耐磨损处理、耐高温处理等。
X-Strata920这一出色的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。日本日立提供多种镀层厚度解决方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）
使用X-Strata920可遵从各种行业规范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

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