kokusaikagaku sft-9455 荧光X射线膜厚计

具备正比计数管和半导体检测器两个检测器。

X射线管电压50 KV、X射线管电流1.5毫安和高功率。

选择应用程序选择画面。

1 .定性分析：钛更重的物质的定性分析，强度测定等进行。

第2 .测定法：用制作食谱，镀金膜厚度和成分的自动测量、自动结果

输出等输出。

3 .散装基本参数：电镀液，合金、粉等的成分比测定基本参数法进行。

4 .散装标准曲线：电镀液，合金、粉等的成分比例测量标准曲线法进行。

5 .薄膜基本参数：镀金膜厚测定基本参数法进行。

6点薄膜标准曲线：镀金膜厚测量标准曲线法进行。

7 .维修：测量头测试，稳定度试验，校准标准值登记，校准值图表显示等

在，有。

8点数据处理：测量结果Excel等在处理时使用。

（选项设定）也有这样的应用。

是校准用X射线的屏幕。

正比计数管分辨率是Ni 1.24 keV，锡（Sn）2.06 keV良好。

顺便说一下，由于制造厂的定期检查时的基准值Ni 1.4 keV，锡（Sn）2.3 keV以下。

X射线管的使用时间5987.9时间（2017年1月22日为止），制造商的推荐更换时间

10000小时的6成弱。

样品画面（标准）。

试样画面100% 75% 50%的50%的转换可能。

XYZ轴全部鼠标操作。另外，用轻快的速度动作。

样品画面（放大1）。

样品画面（放大2）。

样品画面（扩大3）。

为一个自动对焦的激光光。

半导体探测测量的Cu光谱。α射线和Kβ可以分开测量

Au / Ni / Cu 10秒，100次的测量结果。

使用检测器：正比计数管

科里：

管电压：50 kV

管电流：1500μ

不过滤使用（非）

使用用途：薄膜标准曲线

平均值，标准偏差，CV值等。